PSI 5749 – Técnicas de Análise de Materiais para Microeletrônica

PSI/EPUSP – Prof. Dr. Antonio C. Seabra – Sala A1-46 – Tel. 11 3091 5660 – acseabra@lsi.usp.br
 
2° Período de 2011

o        Calendário do Curso de PSI 5749

o        Material das Aulas

§         Aula 1: Introdução

§         Aula 2: Microsopia de Força Atômica (AFM) / Lista 1

§         Aula 3: Microscopia Óptica e Eletrônica (SEM) / Lista 2

§         Aula 4: Espectroscopia de Infravermelho empregando Transformada de Fourier (FTIR) / Lista 3

§         Aula 5: Retroespalhamento de Rutherford (RBS)

§         Aula 6: Retroespalhamento de Rutherford (RBS) / Lista 4

§         Aula 7: Difração de Raios X (XRD) / Lista 5

§         Aula 8: Espectrometria de Massa de Íons Secundários (SIMS)

§         Aula 9: Espectrometria de Massa de Íons Secundários (SIMS) / Lista 6

§         Aula 10: Prova

o        Tabela com as Técnicas de Caracterização abordadas neste curso

o        Prova PSI 5749 e Anexo

o        Notas Finais – ainda não disponível