Brazilian
Conferences and Brazilian Journals (1998)
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“Study of CF4 + H2 plasma surface modification
of PMMA for plastic waveguides preocessing”, Bartoli, Mansano, Verdonck,
Carreño, da Costa, Martins, Leone, 13º CBECIMAT, Caxambu,
novembro 1998.
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“Plasma etching for microelectronic and micromechanical
applications”, P. Verdonck, R.D. Mansano, 5o Encontro Brasileiro de Física
de Plasma, Águas de Lindóia, dezembro 1998, pp. 117-120.
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“O Uso de CDs, Simuladores e Redes no Ensino
de Eletricidade e Eletrônica Experimentais”, Seabra, A.C.; Consonni,
D., Anais do Simpósio “Universidade e Novas Tecnologias: Impactos
e Implicações”, artigo convidado, a ser publicado, São
Paulo, Março de 1998.
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"Effect of the rapid thermal annealing parameters
on the mechanical stress and on the morphology of titanium silicide films
formed onto silicon wafer surfaces", de Souza, S. G.; Hasan, N.M. Laganá,
A.A.M.; Santos Filho, S.G.d. , XIII SBMicro - International Conference
on Microelectronics and Packaging - ICMP’98, Curitiba, Paraná, August
10 to 14, 1998, p. 202-10.
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"Influence of he titanium deposition procedures
(evaporation or sputtering) on the morphology of titanium silicide films
formed onto Si(100)", Hasan, N.M. Laganá, A.A.M.; Santos Filho,
S.G.d. , XIII SBMicro - International Conference on Microelectronics and
Packaging - ICMP’98, Curitiba, Paraná, August 10 to 14, 1998, p.
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"Electrodeposition of Cobalt Thin Films on
Silicon", Munford, M.L.; D’Ajello, P.C.T.; Pasa, A.A.; Schwazacher, W.;
Santos Filho, S.G.d. , 13o. Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciência
dos Materiais - CBECIMAT, Curitiba, Paraná, December 06 to 09, 1998,
p. 1801-1809.
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"Aquisição de dados para caracterização
de microdispositivos fluídicos", Alexandre Eiji Furukawa, Eliphas
Wagner Simões e Rogério Furlan, , Anais do 6° Simpósio
de iniciação Científica da Universidade de São
Paulo (6° SICUSP), vol. 2, resumo 2.66, São Carlos, SP, novembro
de 1998, p. 139.
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"Análise do Plasma de TEOS/O2: importância
para a deposição", M. L. P. Silva, XIX Congresso Brasileiro
de Aplicações de Vácuo na Industria e na Ciência
(1998) ref. 029
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"Obtenção e estudo de óxido
de silício modificado depositado por PECVD", A. M. Nakazawa, M.
L. P. Silva, N. I. Morimoto, XIX Congresso Brasileiro de Aplicações
de Vácuo na Industria e na Ciência (1998) ref. 085
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"Produção Limpa", E.R.F. Silva,
M. L. P. Silva, Congresso Internacional de Naturologia Aplicada, Apresentação
oral, Santa Catarina (1998)
-
"Sustentabilidade, gestão ambiental
e vantagens competitivas", E.R.F. Silva, M. L. P. Silva, II Simpósio
Internacional De Qualidade Ambiental, Poster, Trabalho 39, R. Grande do
Sul (1998)
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"Recycle of eletronics products: São
Paulo state as an example", Poster, J. Gameiro, M. R. M. Cassiano, M. L.
P. Silva, I Workshop on Quartz International Trade System, Poster, S. Paulo
(1998)
-
"Waste minimization on pcb board industries:
importance of the audit process", E.R.F. Silva, M. L. P. Silva, I Workshop
on Quartz International Trade System, Poster, S. Paulo, 1998
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“Corrosão de filmes finos de carbono
tipo diamante “, Encontro de Diamantes e Materiais Relacionados, Massi,
Maciel, Nishioka, Otani, Mansano, Verdonck , abstract, p.8, INPE, São
José dos Campos, 1998.
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“Diamondlike carbon films produced by sputtering
on silicon substrate", Massi, Maciel, Nishioka, Otani, Mansano, Verdonck
, XIX CBRAVIC, abstract, LNLS, Campinas, 1998.
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"A new technique to obtain the MOS gate oxide
thickness and electric breakdown field distributions from Follower-Nordheim
tunneling current", Nogueira, W.A.; Santos Filho, S.G.d. XIII SBMicro
- International Conference on Microelectronics and Packaging - ICMP’98,
Curitiba, Paraná, August 10 to 14, 1998, p. 475-77.
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"Mechanical stress and morphology of copper
thin films deposited by electroless plating onto Si (100)", Hashimoto,
A.I.; Santos Filho, S.G.d. XIII SBMicro - International Conference on Microelectronics
and Packaging - ICMP’98, Curitiba, Paraná, August 10 to 14, 1998,
p. 478-80.
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"Estudo da influência dos parâmetros
de recozimento térmico rápido na morfologia dos filmes de
TiSi2 formados e sua correlação com a tensão mecânica",
de Souza, S. G.; Laganá, A.A.M.; Santos Filho, S.G.d. Journal of
Solid-State Devices and Circuits, v. 06, n. 1, p. 24, 1998 (Publication
Abstract).
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"Obtençào da rugosidade RMS
de superfícies recobertas com ouro e alumínio utilizando
a técnica de espalhamento de luz LASER HeNe", de Souza Filho, J.C.;
Santos Filho, S.G.d. Journal of Solid-State Devices and Circuits, v. 06,
n. 1, p. 24, 1998 (Publication Abstract).
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"Estudo experimental da tensão mecânica
em filmes finos de cobre obtidos por deposição eletroquímica
espontânea sobre silício", Hashimoto, A.I.; Santos Filho,
S.G.d. Journal of Solid-State Devices and Circuits, v. 06, n. 1, p. 25,
1998 (Publication Abstract).
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"Contribuição ao estudo da morfologia
da superfície e da interface do siliceto de titânio formado
sobre Si(100) empregando a técnica de microscopia de força
atômica (AFM)", Hasan, N.M.; Laganá, A.A.M.; Santos Filho,
S.G.d., Journal of Solid-State Devices and Circuits, v. 06, n. 1, p. 24-5,
1998 (Publication Abstract).
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“Sistema DAQ-Aquisição de Imagens”,
Araes, F. G. ; Seabra, A. C., VI Simpósio de Iniciação
Científica da Universidade de São Paulo, v.2 p.141, São
Carlos 1998.
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"Por que vale adotar a produção
limpa", M. L. P. Silva, CD Qualidade, outubro (1998) 75
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"Diminuição de resíduos
na área de circuito impresso", M. L. P. Silva, Boletim da Fundação
Vanzolini, jan/fev (1998) 16 .
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"Obtenção de um processo de
litografia de multicamadas", R. D. Mansano, P. Verdonck, H. S. Maciel,
Revista brasileira de aplicações de vácuo, vol 11,
pp 60-64 (1992).
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“Deep trench etching in silicon with fluorine
containing plasmas”, R.D. Mansano, P. Verdonck, H.S. Maciel, Boletim Técnico
da Escola Politécnica da USP, BT/PEE/9812 (1998)
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“Comparison between Single and Double Langmuir
Probe Techniques for Analysis of Inductively Coupled Plasmas”, G.A. Cirino,
P. Verdonck, H.S. Maciel, R.M. de Castro, M. Massi, M.B. Pisani, R.D. Mansano,
Boletim Técnico da Escola Politécnica da USP, BT/PEE/9824
(1998)
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“Eletrodeposição de Cobre sobre
Si monocristalino”, Martins, L.F.O.; Seligman, L.; Santos Filho, S.G.d.;
D’Ajello, P.C.T.; Losch, W.P.; Hasenack, C.M.; Pasa, A.A.;Revista Brasileira
de Aplicações de Vácuo, v. 17, n. 1, p. 52, 1998.
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“Utilizando o LabVIEW nos Laboratórios
Didáticos de Graduação do Curso de Engenharia Elétrica
da Escola Politécnica da USP”, Seabra, A.C.; Consonni, D., Academic
Instrumentation Newsletter, Edição em Português, National
Instruments, volume 10, number 1, p. 1, 1998.